точная сборка PCB, высокочастотная PCB, высокоскоростная PCB, стандартная PCB, многослойная PCB и PCBA.
Самая надежная фабрика по обслуживанию печатных плат и печатных плат.
The dielectric constant (Dk) or relative dielectric constant of the материал of the PCB плата цепи is not a constant constant-although it looks like a constant from its name. например, the Dk of a material will vary with frequency. так же, if different Dk test methods are used on the same material, также можно измерить различные значения Dk, Даже если эти методы тестирования точны. As плата цепи материал все чаще используется для миллиметровых волн, such as 5G and advanced driving assistance systems, важно знать, как меняется dk с частотой и какой метод тестирования dk "подходит".
Хотя такие организации, как IEEE и IPC, имеют специальные комитеты для обсуждения этого вопроса, there is currently no standard industry test method to measure the Dk of плата цепи материал с миллиметровой частотой. Это не из - за отсутствия методов измерения. In fact, справочный документ, опубликованный Chenetal.1 et al. описание более 80 методов тестирования Dk. However, Ни один способ не идеален.. Each method has its advantages and disadvantages, особенно в диапазоне частот от 30 до 300 ггц.
проверка схемы vs. raw material test
как правило, для определения материалов платы используются два основных метода тестирования: измерение сырья или измерения в цепи, изготовленной из материалов. тестирование на основе сырья зависит от высококачественных и надежных испытательных приспособлений и оборудования, а также от того, что сырье для прямого тестирования может получить значения Dk и Df. испытания на основе схем обычно проводятся с использованием общедоступных схем и отбираются из характеристик цепи параметры материала, такие, как измерение центральной частоты или частотной реакции резонатора. Методы тестирования сырья обычно привносят неопределенность, связанную с испытанием зажимов или испытательного оборудования, в то время как метод испытания схемы включает неопределенность, обусловленную методами проектирования и обработки испытанных схем. Поскольку эти два метода отличаются друг от друга, результаты измерений и уровень точности обычно не совпадают.
например, the X-band clamped stripline test method defined by IPC is a raw material test method, И этот результат не совпадает с результатами испытания на одну и ту же схему из одного и того же материала. The clamping type stripline raw material testing method is to clamp two pieces of material under test (MUT) in a special test fixture to construct a stripline resonator. There will be air between the material under test (MUT) and the thin resonator circuit in the test fixture, наличие воздуха уменьшает наблюдаемый Dk. If the circuit test is performed on the same плата цепи material, the measured Dk is different from that of no entrained air. For the material of the высокочастотная плата допуск DC ±0.050 определяется испытанием сырья, the circuit test will get a tolerance of about ±0.075.
The плата цепи материал анизотропный и обычно имеет разную величину Dk на трех осях материала. значение Dk обычно имеет очень незначительную разницу между x и y осями, so for most high-frequency materials, Dk - анизотропия обычно указывает на сравнение Dk между ось z и плоскость x - y. из - за анизотропии материала, for the same material under test (MUT), Dk, измеренный на ось z, отличается от dk на плоскости xy, Хотя метод тестирования и измеренные значения Dk являются "правильными" .
тип схемы, используемой для испытания схемы, также влияет на измеренное значение dk. обычно используются два типа тестовых схем: резонансная структура и структура пропускания / отражения. резонансная структура обычно дает узкополосные результаты, а тестирование на прозрачность / отражение обычно дает широкополосные результаты. методы использования резонансной структуры обычно более точны.
