ATE çip test PCB

IC test çip ekipmanı ATE (otomatik test ekipmanları) diyoruz ve ATE'de kullanılan PCB ATE test çip PCB denir. Genelde birçok ATE test fonksiyonu birlikte toplanıyor ve yediğini bilgisayar tarafından kontrol ediliyor. Yazılım ve donanım kombinasyonu içeren yarı yönetici çipların fonksiyonu test etmek için kullanılıyor.

Bu yarı yönetici tasarımı ve üretim süreciyle başlar.

Yarı yönetici ürünün üç endüstriyel süreci geçmesi gerekiyor: IC tasarımı, wafer üretimi ve paketleme.

Tüm testi çip ürünlerinin iki anahtar testi düğümüne ihtiyacı var:

Chip probing (CP): ate bu sahnede sonda sahnesi denir

Son testi (kısa bir FT)

Çip paketlendikten sonra teste edildi ve farklı çip tipleri farklı test metodları ve ihtiyaçları vardır.

Chip tipi:

Analog: Simülasyon yavaşça konuşabileceğiniz bir konseptdir. Kısa s ürede, fiziksel dünyayı fark etmek için bir arayüz. Sinyal özelliklerine göre analog sinyal sürekli devam ediyor.

Dijital çip: mikroprocessörler gibi veri bilgilerini yayınlamak için dijital sinyallerin kullanımı. Sinyal özelliklerine göre, bu diskretli. Aşağıdaki şekilde gösterildiği gibi

Karışık sinyal çipi: doğal olarak, iki tür sinyal var ve farklı fonksiyonlar birleştirildi. DSP ve SOC çipleri gibi.

Hafıza / yüksek hızlı otobüs çipi: bu tür çip testi projesi biraz daha karmaşık ve kendi ürün özelliklerinde özel testi ihtiyaçları var.

Chiptest sistemi nedir?

Tester, DIB / sonda kartı, yönetici, test yazılımı (mühendisler geliştirmek için farklı makineler türüne göre farklı diller ve modüller var)

chiptest

test chip

Test sistemi genelde nasıl çalışıyor?

İlk önce, çip testi makinesi test program ının ihtiyaçlarına göre bir seti sinyal oluşturur, genellikle çok basit. Şablon teste edilecek çip'e girdi ve çip çıkış değerini yiyecek makinesine ve kendi fonksiyonuna göre verir. Makine çıkış değerini çip ile önceden programlandırılmış test standartlarına göre karşılaştırır.

Eğer talepleri yerine getirirse, geçecek. yoksa başarısız olacak. Tabii ki standart için bir tolerans değeri var. Yoksa başarısızlık yığını, bu kadar sert bir geçiş hızı, tasarım mühendisi deli olduğu tahmin ediliyor. Ancak bu farklı menzilde, ürünleri sınırlamak için sıralama yapmaya devam edebilirsiniz.

Sonunda, testi program ı çipimizi farklı voltaj, ağır ve zamanlama değiştirerek test ediyor, sonra arızasızlandırma ve karakterizi değiştirerek.

Bir örnek olarak hafıza IC'i alırken, test öğeleri genellikle DC'nin AC parametr testi artı işlemli test.

DC parametre testi sinyal pin'in açık/kısa, VCC pin'in açık/kısa, bekleme ve ICC akışı ve s ızdırma testini işletiyor.

AC parametr test mainly comes from TCAC (column access time) test

Zaman testi için: ayarlama zamanı, durama zamanı, propagasyon geçirmesi ve zamanlama kalibresi

Teste makinesinin ortak uygulama alanı böyle:

Hafıza IC

T55xx serisi

T53xx serisi

En sonraki magnum serisi

Credence Kalos

Verigy V4000 serisi

Verigy v5000 serisi

Verigy v93000 HSM serisi

KingTiger KT2/ KT3

Dijital, karışık sinyal veya SOC çipi

Teradyne tiger serisi

Teradyne Flex / Ultra flex serisi

Teradyne J750 serisi

Teradyne katalizatçı serisi

Credence Sapphire

Credence quarter / two series

Credence sapphire D serisi

Credence SC serisi

Schlumberger exa 2x00 serisi

Verigy v93000 SOC serisi

Agilent 94000 seri

LTx fusyon serisi

Advantage t77xx serisi

T2000 seri ADVANTEST

ADVANTEST t65xx / t67xx serisi

LCD sürücüsü

Yokokawa ts67xx serisi

T63xx serisi

Spea C3320

RF çip

Credence uyku-3000 serisi

LTx füzyon CX serisi

Agilent 84000 seri

Advatest T7611

Room Instrument 7100A

Sonra, çalışma testi bölümüne bakalım.

Döngü Oku

Wrtie Cycle

Hızlı Sayfa Modu/ EDO Modu Kontrol

Mart Sınıfı/ Mart Sınıfı

Bu temel olarak özel fonksiyon test öğeleri eklenebilir

Kontrol Tahtası

Kelebek

Diagonais

Dönüştürme

Hafıza testinde kendi özellikleri var, fakat aynı tiplerde ATE test çipi ile aynı. Temas / devamlılık test (açık / kısa), DC parametre test, AC zamanlama test, dijital fonksiyonu test ve karışık sinyal test dışında yok.