ATE 칩 테스트 PCB

우리는 IC 테스트 칩 장치를 ATE (자동 테스트 장치), ATE에 사용되는 PCB를 ATE 테스트 칩 PCB라고 부릅니다.일반적으로 대량의 ATE 테스트 기능이 한데 모여 컴퓨터가 ATE를 제어하여 반도체 칩의 기능을 테스트하는데, 여기에는 소프트웨어와 하드웨어의 결합이 포함된다.

이것은 반도체의 설계와 제조 과정부터 시작된다.

반도체 제품은 집적회로 설계, 웨이퍼 제조 및 패키징이라는 세 가지 산업 과정을 거쳐야 합니다.

모든 테스트 칩 제품에는 두 가지 핵심 테스트 노드가 필요합니다.

칩 탐지(CP): ate 이 단계를 탐지 단계라고 합니다.

최종 테스트(FT)

칩은 포장 후 테스트를 진행하며, 서로 다른 칩 유형은 서로 다른 테스트 방법과 요구가 있다.

칩 유형:

시뮬레이션: 시뮬레이션은 천천히 이야기 할 수있는 개념입니다.간단히 말해서, 물리적 세계를 인식하는 인터페이스입니다.신호의 특성상 아날로그 신호는 연속적이다

디지털 칩: 마이크로프로세서와 같은 디지털 신호를 사용하여 데이터 정보를 전송합니다.신호 특성으로 말하자면, 그것은 이산적이다.아래 그림과 같이

혼합 신호 칩: 자연히 두 가지 신호가 있으며 다양한 기능이 통합되어 있습니다.DSP나 SOC 칩처럼

메모리/고속 버스 칩: 이런 종류의 칩의 테스트 항목은 상대적으로 더 복잡하며, 그 자체의 제품 특성에 대해 특수한 테스트 요구가 있다.

칩 테스트 시스템은 무엇입니까?

테스터, DIB/프로브 카드, 프로세서, 테스트 소프트웨어(기계 유형에 따라 엔지니어가 개발할 수 있는 언어와 모듈이 다름)

칩 테스트

테스트 칩

테스트 시스템은 일반적으로 어떻게 작동합니까?

우선, 칩 테스트기는 테스트 프로그램의 요구에 따라 신호 세트를 생성하는데, 보통 매우 간단하다. 모드는 테스트할 칩에 입력하고, 칩은 입력과 자체 기능에 따라 출력 값을 ate기로 전송한다.기계는 미리 프로그래밍된 테스트 표준에 따라 출력 값을 칩과 비교한다.

요구 사항이 충족되면 통과합니다.그렇지 않으면 실패합니다.물론 또 하나의 표준적인 공차값이 있다. 그렇지 않으면 말뚝의 실효, 이렇게 엄격한 합격률은 설계공정사가 미쳤을것으로 추측된다.그러나 이 차이점 내에서 제품을 계층화하기 위해 포장 테스트를 계속할 수 있습니다.

마지막으로, 테스트 프로그램은 서로 다른 전압, 전류, 시퀀스를 변경하여 우리의 칩을 테스트한 다음 디버깅과 표징을 진행한다.

스토리지 IC의 경우 일반적으로 테스트 항목은 DC-AC 매개변수 테스트 기능 추가 테스트입니다.

DC 매개변수 테스트에는 신호 핀의 회로/단락, VCC 핀의 회로 및 단락, 대기 및 작동 중인 ICC 전류 및 누출 테스트가 포함됩니다.

AC 매개변수 테스트는 주로 TCAC(열 액세스 시간) 테스트에서 시작됩니다.

타이밍 테스트: 설정 시간, 유지 시간, 전파 지연 및 타이밍 조정

시험기의 일반적인 응용 범위는 다음과 같다.

스토리지 IC

ADVANTEST t55xx 시리즈

ADVANTEST t53xx 시리즈

Nexttest magnum 시리즈

Credence Kalos

Verigy V4000 시리즈

Verigy v5000 시리즈

Verigy v93000 HSM 시리즈

KingTiger KT2/KT3

디지털, 혼합 신호 또는 SOC 칩

Teradyne 타이거 시리즈

Teradyne Flex/Ultra Flex 시리즈

Teradyne J750 시리즈

Teradyne 촉매 제품군

Credence Sapphire

크레딧 분기 / 듀오 시리즈

Credence 사파이어 D 시리즈

Credence SC 시리즈

슬렌베셔 exa 2x00 시리즈

Verigy v93000 SOC 시리즈

안젤란 94000 시리즈

LTx 융합 제품군

Advantage t77xx 시리즈

ADVANTEST T2000 시리즈

ADVANTEST t65xx/t67xx 시리즈

LCD 드라이브

횡하ts67xx 시리즈

ADVANTEST t63xx 시리즈

Spea C3320

무선 주파수 칩

Credence asl-3000 시리즈

LTx fusion CX 시리즈

안젤란 84000 시리즈

Advatest T7611

Roos 기기 7100A

다음으로 기능 테스트 섹션을 살펴보겠습니다.

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3월 열차/3월 행

여기에 특수 기능 테스트 항목을 추가할 수 있습니다.

바둑판

나비

Diagonais

이동 반전

메모리 테스트는 특수성이 있지만 구성상 다른 유형의 ATE 테스트 칩과 같습니다.접촉 / 연속성 테스트 (오픈 / 단락), DC 매개변수 테스트, AC 타이밍 테스트, 디지털 기능 테스트 및 혼합 신호 테스트를 초과하지 않습니다.