Тестирование чипов ATE PCB

Мы называем устройства с чипами для тестирования IC ATE (автоматические устройства тестирования), а PCB, используемые в ATE, называются PCB для тестовых чипов ATE. Как правило, большое количество функций тестирования ATE объединяется, и компьютер управляет ATE для тестирования функций полупроводниковых чипов, которые включают в себя сочетание программного обеспечения и аппаратного обеспечения.

Это начинается с процесса проектирования и производства полупроводников.

Полупроводниковые продукты должны проходить через три промышленных процесса: проектирование интегральных схем, изготовление кристаллических кругов и упаковка.

Все тестовые чипы требуют двух ключевых тестовых узлов:

Обнаружение чипа (CP): ate на этом этапе называется фазой обнаружения

Окончательное тестирование (FT)

Чипы тестируются после упаковки, и различные типы чипов имеют разные методы тестирования и требования.

Тип чипа:

Моделирование - это концепция, о которой вы можете говорить медленно. Короче говоря, это интерфейс восприятия физического мира. Что касается характеристик сигнала, то аналоговый сигнал непрерывный.

Цифровые чипы: передача информации о данных с использованием цифровых сигналов, таких как микропроцессоры. Что касается характеристик сигнала, то он является дискретным. Как показано на диаграмме ниже

Гибридные сигнальные чипы: Естественно, есть два сигнала и интегрированы различные функции. Например, чипы DSP и SOC.

Микросхемы памяти / высокоскоростные шины: Тестовые программы для таких чипов относительно сложны и имеют особые требования к тестированию своих собственных характеристик продукта.

Что такое система тестирования чипов?

Тестер, DIB / зондовая карта, процессор, программное обеспечение для тестирования (различные языки и модули для разработки инженерами в зависимости от типа машины)

Тестирование чипов

Испытательный чип

Как обычно работает система тестирования?

Во - первых, машина для тестирования чипов генерирует набор сигналов в соответствии с требованиями тестовой программы, часто очень простой. Режим вводится в чип, который будет протестирован, и чип передает выходное значение на ate - машину в соответствии с входом и собственными функциями. Машина сравнивает выходное значение с чипом в соответствии с предварительно запрограммированными стандартами тестирования.

Если требования выполнены, то принимаются; В противном случае, он потерпит неудачу. Конечно, есть стандартное значение допусков, иначе свая не сработает, такая строгая скорость годности, что, по оценкам, инженеры - конструкторы сошли с ума. Однако в пределах этой разницы вы можете продолжить тестирование упаковки, чтобы классифицировать продукт.

Наконец, программа тестирования проверяет наш чип, изменяя различные напряжения, ток и временные ряды, а затем отлаживает и представляет.

В качестве примера возьмем IC памяти, тестовые проекты обычно являются тестами параметров постоянного тока и переменного тока плюс функциональные тесты

Тестирование параметров постоянного тока включает в себя открытие / короткое замыкание сигнальных выводов, открытие и короткое замыкание выводов VCC, резервное и текущее испытание тока ICC и утечки.

Тестирование параметров AC в основном происходит из теста TCAC (время доступа к столбцам)

Тестирование по времени: время установки, время выдержки, задержка распространения и калибровка по времени

Обычные области применения испытательных машин являются следующими:

Память IC

Серия ADVANTEST T55xx

Серия ADVANTEST T53xx

Серия Nexttest Magnum

Креденс Калос

Серия Verigy V4000

Серия Verigy V5000

Серия Verigy v93000 HSM

KingTiger KT2 / KT3

Цифровой, гибридный сигнал или чип SOC

Серия Teradyne Tiger

Серия Teradyne Flex / Ultra Flex

Серия Teradyne J750

Катализаторы серии Teradyne

Креденс Саппхир

Кредитный квартал / Двойная серия

Серия Credence D

Серия Credence SC

Серия Slumberche EXA 2x00

Серия Verigy v93000 SOC

Серия 94000

Серия LTX

Серия Advantage t77xx

Серия ADVANTEST T2000

Серия ADVANTEST t65xx / t67xx

Драйвер LCD

Серия Yokogawa TS67xx

Серия ADVANTEST T63xx

& quot; Спеа С3320 & quot;

Радиочастотный чип

Серия Credence ASL - 3000

Серия LTX Fusion CX

Серия 84000

& quot; Адватест Т7611 & quot;

Прибор Roos 7100A

Теперь давайте взглянем на раздел функционального тестирования.

Период чтения

Цикл Врти

Быстрый режим страницы / проверка режима EDO

Мартовский / Мартовский

На этой основе можно добавить специальные функциональные тесты.

Шахматная доска

Бабочка.

Диагонаис

Переместить инверсию

Тестирование памяти имеет свои особенности, но по составу идентично другим типам тестовых чипов ATE. Не более чем контактное / непрерывное тестирование (открытое / короткое замыкание), тестирование параметров постоянного тока, тестирование временных рядов переменного тока, тестирование цифровых функций и тестирование гибридных сигналов.