PCB Teknoloji - ​ PCB tutma adımlarının birkaç farklı test sonuçları

PCB internet fonksiyonu test sisteminin en önemli s ınırlama faktörü, çevrili sürücünün akışını absorb/çıkarma yeteneğinin çok güçlü olduğu ve bu yüzden test altındaki çip giriş pipinin başarısızlığı fenomenini kapatıyor. Örneğin, çoğu çipinin giriş pin impedance çok yüksektir (1 megaohmdan daha büyük). Eğer girdi pipinin iç fonksiyonu hasar edilirse, pin in impedance yaklaşık 20 ohm'e düşürülebilir, bu da çipinin girdi pipini sürüştürücü fan-out sorunlarına sebep olur. Çirket başarısızlığı gerçekleşer çünkü çoğu çip sadece 10 mA'nin çıkış akışını sürebilir. Ancak, genel tersi sürücü test aracı 20 ohm impedance ile bir girdi pipini sürebilir. Böylece yanlış bir girdi pinsinin çalışma testini geçmesini sağlayan bir çip. QT200, bu sistemin en önemli problemi olan 8 ohms üzerinde düğümleri sürebilir (8 ohms daha az kısa devreler olarak kabul edilir).

PCB test başarısızlığının sebepleri:

Zavallı çip fonksiyonu

Hızlı/zamanlama sorunları

Chip pin durumu (yüzücü, yüksek impedans,

Saat, yasadışı bağlantı)

OC kapı çizgi veya durum

Çıkış sorunu

ICFT test sonuçlarının klasifikasyonu

Test geçti

Test başarısız oldu

Aygıt tamamen sınamadı

Aygıtlar aynı.

Aygıt karşılaştırması aynı değil

(2) Farklı PCB test sonuçlarıyla nasıl

"test başarısız" sonuç göründüğünde

Test fixtürünün yanlış çip ile bağlantısı olup olmadığını ve teste çip ile bağlantısı olup olmadığını kontrol edin. Pin durum penceresinden açık bir pint olup olmadığını ve güç pinsinin keşfettiğini kontrol edin. Bu sorunları düzeltmekten sonra yeniden deneyin.

Eğer sonuç hala "test başarısız" ise, fareyi pin durum penceresine taşıyıp pin impedance göstermek için sol düğmesine tıklayın. Pin'in imkansızlığını aynı fonksiyonla diğer pinin imkansızlığıyla hatayla karşılaştırın. Eğer çipinin bazı çıkış pipinde bir sınama hatası olursa, bu pipinin impedansı diğer çıkış pipinlerle uyumlu olup olmadığını kontrol edin (şu anda impedans, çipinin güçlendiğinde ölçülüp yere alan impedans olup olmadığını unutmayın).

Eğer impedanslar yaklaşık eşit olursa test zamanının tabanını veya sınıf değerini azaltın ve sonra tekrar test edin. Eğer test bu sefer geçerse, bu, çip testi hatası zamanlama sorunu anlamına gelir. Belki de çıkış pin bir kapasitet cihazıyla bağlanmış olabilir. Kapasantörün yükleme süreci yüzünden çıkış pipinin durumu yavaşlatıyor. Zaman üssünü ya da sınıf değerini ayarladıktan sonra teste geçebilirse, cihazın hasar edilmediğinden %90 emin olabilirsiniz ve şu anda sonraki çip denemeye gidebilirsiniz.

Eğer testin zaman tabanı ya da sınırı ayarladıktan sonra hâlâ başarısız olursa, izolasyon gerekli olup olmadığını kontrol edin. Eğer izolasyon gerekmezse, doğrudan 5. adıma git.

Eğer sınama başarısızlığının nedeni sınama durumundan görülebilirse, çıkış pipinin normal mantık seviyesine ulaşamayacağı, sonra test eşiğini düşür ve tekrar test edin. Eğer serbest eşiği değerinde test geçebilirse, bu da çip ile bağlanılan yük çok a ğır, ya da çip'in çıkış sürücü kendisi kötüleştirilmiş ve normal yük tarafından gereken ağırlığı absorbe veya taşıyamaz demektir. Bu oluştuğunda, kullanıcı özel dikkat etmeli. Çözüm, test altındaki tahta etkinleştirildiğinde ya da etkinleştirildiğinde yere çıkış pipinin imfazını yeniden denemek. Ayrıca teste altında QSM/VI yöntemini de kullanabilirsiniz. İki güç ve kapalı durumların altında çipinin her çıkış pipinin VI eğri teste.

Her çıkış pipinin ölçülü impedansını yere karşılaştırın. Eğer güç olmadan ölçülenen impedans yaklaşık aynı ise, ve bir test hatasıyla çıkış pinsinin impedansı, güç a çıldığında diğer çıkış pinlerin impedansından daha yüksektir, yani çip fonksiyonun hasar edildiği anlamına gelir (yüksek impedance Devletleri gerekli akışı absorb veya dağıtmaz), çip yerine koyulmalı.

Her çıkış pipinin VI kurşunu karşılaştırırken, eğer belirli bir çıkış pipinin impedansı diğer çıkış pipinlerin impedansından önemli olarak daha düşük olursa, bu sorun, o pipinle bağlantılı olan fan-out yükünde olduğunu anlamına gelir. Bu pine bağlı tüm çip giriş pinlerin engellemesini keşfet ve gerçek kısa devre noktasını öğren.

Sorunun kök sebebini daha fazla öğrenmek için, sınama hatası olan bir çip üzerindeki çıkış çiplerini çarpmak için kullanılabilir ve sonra yeniden deneyebilirler. Eğer bu sınavın geçtiğini gösterirse, çip ile bağlı yük sorununun gerçekten bir sorunu olduğunu gösterir.

2 "aygıt tamamen sınamadığı" sonuçları göründüğünde

Teste çipinin çıkış pipini test sırasında dönüşmediğinde (yani test penceresinde sabitlenmiş yüksek veya düşük potansiyel tutması), sistem "aygıt tamamen teste edilmediğini" soracak (ekrandaki dalga formu penceresi, prompt göründüğünde görünmez) testi hatalarını işaretleyecek. Örneğin, 7400 NAND kapısının giriş pipini yere kısayılır, uyumlu çıkış pipini her zaman yüksek olacak, ve çipini test ederken yukarıdaki prompt ortaya çıkacak.

Eğer kullanıcının teste altında tahta PCB şematik diagram ı varsa, çipinin bağlantısının normal olup olmadığını kolayca belirleyebilir.

Eğer kullanıcı iyi bir masal öğrendiyse, öğrendiğim çipinin normal bağlantı durumu da kaydedilecek. Kötü bir tahta testinde sistem otomatik olarak öğrenme sonuçlarını iyi bir tahta ile karşılaştırır. Eğer karşılaştırma sonucu farklıysa, kötü kurulun yasadışı bir bağlantısı olduğunu anlamına gelir. Eğer karşılaştırma sonuçları aynı ise, "aygıt tamamen teste edilmediğini görmezden gelebilirsiniz" ve sonraki çip denemeye gidebilirsiniz.

Testenin altındaki çip bir OC cihazı ve PCB devrelerinde "kablo-OR" durumu olarak tasarlanmış olursa, çip çıkışı ile bir kablo-OR ilişkisi olan diğer çip tarafından etkileyebilir. Örneğin, eğer belirli bir çip giriş logiğinin çıkışını düşük seviyede sabitlendirirse, teste çip çıkışı da düşük seviyede ayarlanacaktır. Şu anda, çip sistemini teste de "aygıt tamamen teste edilmediğini" soracaktır. Böyle aygıtların kullanıcıları buna özel dikkat vermelidir. Teste çipinde tüm aynı fonksiyonun VI kurdelerini karşılaştırarak PCB hata noktasını yargılamak için QSM/VI yöntemini kullanmak tavsiye edildi.