точная сборка PCB, высокочастотная PCB, высокоскоростная PCB, стандартная PCB, многослойная PCB и PCBA.
Самая надежная фабрика по обслуживанию печатных плат и печатных плат.
PCB Блог

PCB Блог - двухсторонняя панель PCB

PCB Блог

PCB Блог - двухсторонняя панель PCB

двухсторонняя панель PCB

2022-04-15
View:282
Author:pcb

1.. Circuit online testing technology
1) Online testing principle: The basic principle of online testing is that the tester provides input excitation for the chip under test on the печатная плата, одновременно с этим автоматически собирать и регистрировать данные о выводе и состоянии измеренных чипов. сравнить все зарегистрированные значения состояния с таблицей истинного состояния для определения неисправности объекта.
2.) Post-drive test technology: Post-drive test technology is mainly used for online testing of цифровой circuits. Its essence is to sink or pull out a large transient current at the input stage of the device under test (the output stage of the front-stage driver chip), вынуждать их расширять или уменьшать свой потенциал по мере необходимости, для возбуждения тестирования оборудования. намерение. проверка функциональности устройства на панели, логический уровень устройства с принудительным приводом, каждый привод должен быть способен поглощать или обеспечивать достаточный ток. А.ccording to the post-drive safety standard recommended by the international protection standard document (00-53./1), ток привода испытателя спроектирован для 240mA, время тестирования в 200ms. экспериментировать, измеренное оборудование в основном хорошо изолировано, также обеспечивается безопасность измеренного оборудования.

панель PCB

2. Composition of the tester
1) Hardware module: The tester consists of a portable computer, платформа для испытания и анализа. в том числе, платформа для испытания монолитных машин под управлением компьютера завершила сбор данных об измеренных объектах. Some functions and descriptions are as follows:
The microконтрольler circuit mainly completes data acquisition, control, обработка команд, обмен данными с вычислительной машиной. при проектировании испытателя, серия 8031, 2764 как расширение ROM, 6264 как расширение RAM. декодированная микросхема 74LS138. последовательная связь с вычислительной машиной, MCl488 и MC489 для конверсии уровней RS - 232C и TTL. кварцевый генератор с селекцией частот для синхронизации одной пластинки, Выбор скорости передачи 2400, однополосная машина использует режим работы 3 для последовательной связи. таймер T1 установлен в режиме 2. Настройка SMOD = 1, постоянная времени. драйвер шины расширил шину монолитного устройства, чтобы повысить его драйвер, выбор схемы 74LS244 и 74LS245.

схема управления драйвером в основном завершена в процессе тестирования TTL и CMOS, and selects 4-fold SPST (single pole single throw) DG211 analog switch. управление переключателем выполнено декодированной схемой и блокировкой 74LS373. To ensure that the DG211 is in normally open (OFF) state when powered on, a pull-up resistor (10kΩ) is added to the control line. схема с испытательным приводом предоставляет измерительным кристаллам испытательный входной сигнал, управляющий входной сигнал с использованием микрореле. тестовый сигнал создан буфером данных 74ACT244. для обеспечения соответствия входного тока требованиям проектирования, использовать 4 - канальное параллельное соединение. защита от повреждения оборудования, увеличить LC - сеть для буфера больших токов, схема защиты диода. отклик на вывод измеренных чипов в цепи сбора данных, и использовать компаратор двойного напряжения LM393 для управления выходной сигнал. Он имеет низкое энергопотребление, высокая точность сравнения, логическая совместимость с TTL. вывод LM393 подключен к хранилищу данных 74LS373, считывание сопоставимых данных с помощью микроконтроллера.

привод напряжения/выход ступенчатого напряжения в процессе испытания схемы VI. 8 - битное параллельное D/коммутатор A MC408. The chip power supply voltage is +5V and -12V. опорное напряжение предоставлено регулятором постоянного напряжения тL431. выходной селективный биполярный вывод, выполняется двухкаскадным усилителем LM348. текущее преобразование коллекции A/D - канал для получения текущих данных. в цепи, напряжение цепи сопротивлений нагрузки и дифференциального усилителя LM343 для сопровождения испытательной точки, преобразование текущей точки в A/схема преобразования D. выбор A7574 8 - битного непрерывного сравнительного типа A/схема преобразования D. время переключения на 15, and it is powered by a single +5V supply. выбор опорного напряжения VREF = - 8V. диапазон входного напряжения 0 ++|VREF|. A/преобразование D может быть произведено путем создания отрицательного импульса в RD - конце управляемого программой чипа.

2) Software module: The tester is controlled by the portable main control computer through the serial port, одноблочная Испытательная платформа завершила управление возбуждением, сбор данных и другая работа, Все обработки данных и управление командами выполняются портативным главным компьютером. комплекс тестового программного обеспечения состоит из главного программного обеспечения, программное обеспечение для передачи данных, автономное тестовое программное обеспечение, программное обеспечение для проверки функциональности в сети, программное обеспечение для проверки состояния в сети, программное обеспечение для проверки характеристик VI, программное обеспечение для испытания узлового напряжения, электронный справочник, программное обеспечение для тестирования и разработки, Системное программное обеспечение для самоконтроля, сорт. основной модуль.

3. Main functions of the tester
The tester adopts the circuit online test technology, типичные сбои в работе микропроцессоров на малых и средних интегральных схемах, & Проверить V/характеристики аналого - цифровой аппаратуры. основной принцип тестирования функции цифрового кристалла - обнаружение и регистрация ввода/состояние вывода чипа, и сравнить состояние записи со стандартной таблицей истинного состояния, чтобы определить правильность функции измеренного кристалла. Digital chip state test Each digital device on the circuit board has three state characteristics after power-on: the logic state of each pin (power, земля, высокое сопротивление, сигнал, сорт.), связь между выводами, логическая связь между вводом и выводом. когда оборудование неисправно, Свойства их состояния обычно меняются. тестер может извлечь характеристики состояния каждого IC устройства на платы, сохранить его в компьютерную базу данных, затем сравнивать с аналогичными аварийными схемами, чтобы точно найти место неисправности. Vi характеристики тест анализ эта функция тестирования основана на технологии анализа аналоговых характеристик, может быть использована для моделирования испытаний, digital, специальное оборудование, программируемый прибор, крупное и сверхкрупное оборудование. автоматическое извлечение испытателем через испытательный зонд или испытательный зажим, показывать на экране компьютера, и сохранить его в компьютере. в диагнозе особых неисправностей, сравнить измеренную кривую VI с предварительно хранимой стандартной кривой, Тогда выясните. испытание напряжения узла из - за тестера объект не только включает устройство цифровой схемы, и много аналоговых схем, в целях дальнейшего расширения сферы применения тестера, испытатель использует метод испытания напряжения узлового узла. наложение рабочего напряжения на объект, компьютер считывает значение ответа напряжения в тестовом узле, и создание стандартной базы данных тестовой информации для анализа и определения места неисправности оператора. Помимо вышеперечисленных основных функций, Другие функциональные тестеры также имеют дополнительные функции тестирования, такие как электронное руководство, разработка тестов, & Автоматически открыть систему панель PCB.