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IN ITomografía computarizada Ens1.yo, EsTe EXamen SEndeo Sí. PrEn el En el En el En el interiorteriorteriorteriOcipalmente Acostumbrarse a A CEntacA Este Examen PunAs principales En Este Placa pcba, ¿Cuál? Sí, claro. DescubrimienA COA Circumfluence, Abrir Circumfluence Y Componentes Soldadura Y Además Negligencia. It Sí, claro. Cantidad Medición Objeción, Capacitancia, Inductancia, CrSí.talizar Oscilador Y Además Instalación, Actuar Funcional Examen on Diodo, TransSí.tor, VSí.ual Acoplamiento, TransTipoador, Relé, OperEnivo Amplificador, Poder Módulo, Etc.., Actuar Funcional Examen on Pequeño Y Mediana Integrado Circuito, Tal Como Todo 74 Serie, Memoria Tipo, Frecuentes Conducción Tipo, Intercambio Tipo Y Además ICesio.
Algunos Métodos Pertenecer ITomografía computarizada Ensayo Sí.
1. Ensayo del equipo analógico
Prueba con amplificador operativo. El concepto de "Tierra virtual" en el punto "a" es el siguiente:
μix = iref
RX = vs / V0 * rref
Vs y rref son la fuente de señal de excitación y la resSí.tencia calculada del Instrumentoso, respectivamente. Medir V0 y luego calcular RX. Si el RX que se va a medir es un condensador o Inductancia, vs es una fuente de señal Control automático, RX es una forma de impedancia, y también se puede obtener c o L.
2. PruebComo de medios
Para el ci Digital, se utiliza la prueba (Vector)ial. Las pruebas Vectoriales son similSí.s a las mediciones de la tabla de valores reales, en las que se estimula el Vector de entrada, se mide el vector de salida y se determina la calidad del dSí.positivo mediante pruebas funcionales lógicas reales. Ejemplo: prueba Puerta de dativo
Para las pruebas analógicas de CI, el voltaje y la corriente se pueden excitar de acuerdo a la función real de IC, y la salida correspondiente se puede medir como prueba de bloque de función.
3. Pruebas no mediáticas
Con el desarrollo de la tecnología de fabricación moderna y el uso de circuitos integrados a gran escala, la programación de pruebas vectoriales para dSí.positivos a menudo toma mucho tiempo. Por ejemplo, un program a de prueba 80386 toma casi medio a ño de un programador experto. Una gran Sí, claro.tidad de aplicaciones de dSí.positivos SMT hacen que la falla del Circuito abierto del pin del dSí.positivo sea más prominente. Para ello, teradyne ha introducido multSí.Sí, claro., la tecnología de prueba no vectorial de cada empresa; Genrad introdujo la tecnología de prueba no vectorial Xpress.
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