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Dati PCB
Una nuova tecnologia di test per schede PCB
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Una nuova tecnologia di test per schede PCB

Una nuova tecnologia di test per schede PCB

2022-04-13
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Author:pcb

Attualmente, con la continua comparsa di prodotti utilizzando circuiti integrati su larga scala, l'installazione e la prova del corrispondente Scheda PCB sono diventati sempre più difficili. Anche se il metodo tradizionale della tecnologia di prova in-circuit è ancora utilizzato per il test dei circuiti stampati, Questo metodo è diventato sempre più problematico a causa della miniaturizzazione e confezionamento dei chip. Ora è stata gradualmente sviluppata una nuova tecnologia di test di scansione al limite della tecnologia di prova, La maggior parte dei circuiti ASIC e molte apparecchiature di media scala hanno iniziato a utilizzare la tecnologia di prova di scansione al confine per progettare. La tecnologia BST è conforme alla IEEE1149.1 norma e fornisce una serie completa di soluzioni di test. Nella prova effettiva, non ha bisogno di ricorrere a apparecchiature di prova complesse e costose, e fornisce un metodo di prova indipendente dalla tecnologia del circuito stampato. I vantaggi dell'utilizzo della tecnologia di prova di scansione al confine per la progettazione integrata del circuito e la progettazione del circuito stampato sono che il processo di prova è semplice, che riduce significativamente il tempo di test e diagnosi nel processo di produzione, esperimento, uso e manutenzione, riducendo notevolmente i costi.

Scheda PCB

1. The basic composition of BST
The BST circuit is constructed in accordance with the IEEE1149.1 norma, che include il canale di accesso di prova TAP e il controller, il registro delle istruzioni IR e il gruppo TDR del registro dei dati di prova. The test access channel TAP is a 5-pin pin (1-pin is the reset terminal) connector. Il controller TAP è una macchina a 16 stati, which can generate clock signals and various control signals (ie, genera test, turno, cattura, and update signals), in modo che le istruzioni o i dati di prova siano trasferiti nei registri corrispondenti, Vari stati di lavoro del test.

1.1 Test the clock input terminal TCK
The TCK signal allows the boundary scan portion of the integrated circuit IC to be synchronized with the clock within the system and operate independently.

1.2 Test mode selection input TMS
The test mode selects the TMS pin as the control signal, che determina lo stato di funzionamento del controllore TAP. Il TMS deve essere stabilito prima del bordo ascendente del TCK.

1.3 Test data input terminal TDI
On the rising edge of the test clock pulse TCK, i dati inseriti in serie attraverso TDI sono trasferiti nel registro delle istruzioni o nel registro dei dati di prova, e il controller TAP determina se i dati spostati sono dati di istruzione o test.

1.4 Test data output terminal TDO
At the falling edge of the test clock pulse TCK, i dati sono usciti in serie dal registro delle istruzioni o dal registro dei dati di prova tramite TDO, e il controller TAP determina se i dati serializzati sono i dati delle istruzioni o dei test.

2. Scheda PCB test system
2.1 Test system structure
Its hardware includes a general PC, a BST tester and a serial BST signal cable (a bus with 4 signals, i significati dei numeri nella figura sono i seguenti: 1 è TDI, 2 è TCK, 3 è TMS, and 4 is TDO). Il tester è collegato al PC tramite una porta parallela standard, ed è collegato alla porta di accesso di prova TAP sul PCB tramite un cavo di segnale seriale. Supponendo che ci siano tre moduli A, B, e C sul circuito stampato, il modulo può essere composto da un singolo chip o più chip. Sono progettati secondo la norma IEEE1149.1 standard, che è, the BS register (the position where the dotted line passes in the module) is added to the I/O pin del chip, e il test di scansione al contorno può essere eseguito. Se il sistema digitale progettato o l'apparecchiatura ha più Scheda PCBs, può essere collegato al Scheda PCBs attraverso cavi di segnale seriali. Gli utenti possono selezionare in modo flessibile i chip, moduli o l'intero PCB da testare tramite programmazione.

2.2 Principle of test system
Testers can use PC software programming to automatically generate test patterns to detect circuit faults according to the netlist and device model of the Scheda PCB. Il PC dovrebbe avere due schede con almeno 32 bit I/O perni, in modo che la lettura a 32 bit/I pin di scrittura possono essere formati per facilitare le operazioni di lettura e scrittura. Il software di prova dovrebbe includere preprocessori e unità di esecuzione. Il preprocessore legge i grafici di prova e ottiene le possibili relazioni di questi grafici, e il risultato è un insieme di file, comprese le informazioni relative alla conservazione e al controllo. L'unità di esecuzione carica i file di cui sopra e quindi esegue i test. Il processo consiste nel leggere prima le informazioni memorizzate, mettere i dati sulla porta di ingresso, leggere i dati dalla porta di uscita appropriata, e confrontarlo con il risultato atteso. Se si trova un difetto, verrà generato un errore, e la posizione del guasto sarà contrassegnata, e verrà aggiunto un programma diagnostico per indicare la posizione specifica del guasto.

2.3 Test content
1) Test the connection of the I/O perni del Scheda PCB. Perché l'io/O perni del Scheda PCB provide access channels for the tester;
2) Test the integrity of the IC chip on the Scheda PCB. Durante il processo di assemblaggio del chip, il chip IC potrebbe essere stato danneggiato. The built-in self-test and internal test can be used to verify the quality of the chip;
3) Test the open circuit and short circuit faults of the IC chip interconnection on the Scheda PCB, which can be verified by external tests:
4) Test the integrity of the bus on the Scheda PCB, attraverso il quale la prova può rilevare se c'è un guasto del circuito aperto sul I/O pin del chip IC collegato al bus.
Con lo sviluppo continuo della tecnologia BST, Scheda PCB i test saranno gradualmente migliorati. Grazie all'ampio utilizzo di circuiti integrati programmabili, la flessibilità e l'applicabilità di Scheda PCB i test saranno migliorati, e il costo del sistema di prova corrispondente sarà ridotto. I progettisti possono utilizzare tutti i circuiti integrati logici programmabili sul Scheda PCB, e la logica del chip può essere modificata solo dalla programmazione software, in modo da fare un circuito stampato generale, in modo che il Scheda PCB può completare diverse funzioni. In questo modo, la tecnologia di prova di scansione al confine farà Scheda PCB test più conveniente e veloce, e notevolmente ridurre il costo della prova.