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PCB技術

PCB技術 - プリント基板校正鉛フリーPCB基板表面処理プロセス

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PCB技術 - プリント基板校正鉛フリーPCB基板表面処理プロセス

プリント基板校正鉛フリーPCB基板表面処理プロセス

2021-11-09
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Author:Jack

PCB基板校正 常に, テストエンジニアの主な懸念は、彼が効果的なテストプログラムを, 生産においてうまく実行できる. 「オンラインテスト(ICT)」は依然として製造欠陥を検出する非常に有効な方法である. より高度なICTシステムは、フラッシュメモリをプログラムするための方法を提供することによって、テスト機能構成に実際の値を加えることもできます, PLD, テスト中のFPGAとEEPROM. アジレント3070システムはICTの市場リーダーである.


今ではICTは、2013年の製造とテストプロセスで重要な役割を果たしている プリント基板 ((PCBA)), しかし、鉛フリーPCBの人々の追求がICTステージに与える影響?


鉛フリーはんだ付け技術の推進により、多くの研究が進んでいる PCB表面 処理技術. これらの研究は主に1980年代の技術的パフォーマンスに基づいている PCB構築プロセス. 異なる影響PCB表面 試験段階の治療技術はほとんど無視される, または接触抵抗にのみフォーカス. 本報告書では、ICTにおける効果の詳細と、これらの変化に対応し、理解する必要性を紹介する.


PCB基板


PCB校正面治療経験, ICT PCB基板生産プロセス変更の実現のための訓練技術者. 本稿は鉛フリーPCBの表面処理について述べる, 特に製造工程のICT段階, また、鉛フリー表面処理の成功したテストは、 PCB構築プロセス.


成功したICTテストは、常に針床固定具のテストプローブとPCB基板上のテストパッドとの間の接点の物理的特性に関連している. 非常に鋭いプローブがはんだ付けされたテストポイントに触れるとき, はんだの降伏圧力よりもプローブの接触圧力が非常に高いので、はんだは凹む. 半田凹, プローブは試験パッドの表面上の不純物を貫通する. 下の汚染されていないハンダは、現在テストポイントとの良好な接触を達成するためにプローブと接触している. プローブ挿入の深さは、ターゲット材料の降伏強度の直接的な機能である. プローブが深く浸透する, より良い接触.


8オンス(oz)のプローブに26,000の接触圧力をかけることができるから160,000ポンド/平方インチ, 表面径に応じて. はんだの降伏強度は約5であるので, プローブの接触は、この比較的柔らかいはんだ.


プリント基板校正表面処理プロセスの選択           

因果関係を知る前に、のタイプを記述することは非常に重要です プリント配線板表面 治療プロセスが利用可能であり、これらのタイプが提供できるもの. すべて プリント回路基板 (PCB)基板上に銅層がある。銅層が保護されていない場合, それは酸化されダメージを受ける. 利用可能な多くの保護層があります, 最も一般的なのは、熱空気はんだ平坦化(HASL)、有機はんだ保護(OSP)、無電気ニッケル金含浸(ENIG)、銀浸漬, 錫浸漬.


熱風はんだ整列(HASL)

プリント配線板校正HASLは業界で使用される主な鉛含有表面処理技術である. プロセスは、pcb基板をリードすず合金に浸すことによって、形成される, そして、余分のハンダは、「空気ナイフ」によって取られます. いわゆる空気ナイフは、ボードの表面に吹きつける熱い空気です. PCAプロセスのために, HASLには多くの利点があります:それは最も安いPCBです, そして、複数のリフローはんだ付け後、表面層をはんだ付けすることができる, 洗浄と貯蔵. ICT用, HASLはまた、はんだ付けでテストパッドとビアを自動的に覆うプロセスを提供する. しかし, 既存の代替法に比べて, HASL面の平坦性または平面性は貧しい. 現在、いくつかの鉛フリーHSL代替プロセスがあります, HASLの自然な置換特性のためにますます人気が高まっている. 長い間, HASLは良い結果を与えられた, しかし、「環境保護」グリーンプロセス要件の出現で, このプロセスの存在は. 無鉛の問題に加えて, ボードの複雑さと細かいピッチの増加は、HASLプロセスの多くの制限を公開している.


長所 PCB基板校正面ぎじゅつ, 製造プロセス全体ではんだ付け性を維持する, ICTにマイナスの影響はない.


欠点:通常、鉛含有プロセスを使用する. 鉛含有プロセスは、現在制限されて、結局2007年までに除去されます. 細針間隔用 (<0.64mm), それは、はんだ橋かけと厚さ問題を引き起こすかもしれません. 不均一な表面は、組立工程における共平面性問題を引き起こす可能性がある.