Tecnologia PCB - Fenomeno di micro cortocircuito dello strato interno del PCB

I prodotti della società PCB sono stati afflitti da questo fenomeno "micro cortocircuito all'interno del circuito stampato" recentemente. Poiché non siamo stati in grado di trovare prove, abbiamo finalmente compiuto progressi di recente. Il motivo è che abbiamo finalmente trovato il fenomeno del micro cortocircuito nel circuito stampato. Schede difettose esistenti, dopo aver analizzato il fenomeno con la fabbrica di schede PCB, la causa dei difetti attualmente punta a [CAF (filamento anodico conduttivo, filamento anodico conduttivo, fenomeno di perdita del filamento di fibra di vetro anodica)], anche comunemente noto come [perdita dell'ora di vetro], Finalmente c'è un po 'di sopracciglio, altrimenti il cliente ha già iniziato a saltare, Perche' non riesco a trovare il problema.

Infatti, non è davvero facile trovare il cattivo fenomeno di questo tipo di CAF. In primo luogo, è necessario scoprire dove il circuito è cortocircuito, e poi tagliare tutte le linee che possono essere tagliate, e gradualmente restringere la gamma di possibili fenomeni di cortocircuito, preferibilmente a Is the via to via, o quale traccia è alla linea, o anche per misurare quale strato di foglio di rame è un cortocircuito, In modo che la sezione trasversale abbia maggiori possibilità di trovare prove di micro-cortocircuito.

Se non sei ancora molto chiaro su cosa sia il CAF, fai riferimento a questo articolo prima

Questa volta ho trovato due laboratori [X Special] e [XX Istituto] per fare le fette. [X Special] ha detto che non c'era alcun problema, mentre [XX Institute] credeva che la lacuna nel tessuto in fibra di vetro potesse causare CAF. Tuttavia, poiché i circuiti stampati difettosi che sono stati campionati erano diversi e il problema del micro-cortocircuito non era sempre presente, è difficile dire quale dei risultati di taglio dei due laboratori era giusto o chi si sbagliava.

Più tardi, dopo aver ottenuto l'effettiva scheda micro-cortocircuito, abbiamo inviato un ingegnere alla fabbrica di schede PCB con la scheda e chiesto un'analisi della fetta sul posto. Questa volta è stato davvero confermato che c'era un fenomeno CAF. Tuttavia, il produttore di schede ritiene che la ragione del CAF sia che il foro passante (via PTH) e il cieco (via Blind) della nostra scheda sono troppo vicini. Ora il produttore di schede sta iniziando a ribaltare la distanza raccomandata originariamente dichiarata di 0,4 mm e cambiarla ad almeno più di 0,5 mm. Il bordo del foro per forare per forare è ora piccolo come 0,1 mm, ma guardando indietro e chiedendo una distanza di 0,5 mm, è fatale e irresponsabile.

Tuttavia, abbiamo anche detto con fiducia all'altra parte che quando la fabbrica di schede ha esaminato il PCB, non ha menzionato il problema della distanza foro-foro e la fabbrica di schede di progetto dovrebbe essere più esperta della nostra fabbrica di sistema, anche se il design è rischioso. Tuttavia, la fabbrica di pannelli deve ancora assumersi una responsabilità relativamente grande, ma non abbiamo chiesto alla fabbrica di pannelli di compensare, ma di chiedere alla fabbrica di pannelli di proporre misure di miglioramento e di richiedere misure preventive.

Di seguito sono riportate le misure di miglioramento proposte dalla fabbrica di pannelli per CAF:

1. Cambiare la progettazione del materiale di riempimento PP: Il materiale di riempimento PP L è cambiato da S1000 a S1000H. La fabbrica di schede ha detto che S1000H ha una migliore resistenza al CAF.

2. Il design della struttura impilabile PP e del rapporto cambiano: Il PP nucleo è stato cambiato dai 5 fogli originali di 7628 fogli a 4 fogli di 7628, e anche cambiato in riempitivi ad alta RC. Poiché lo spessore del PP di Core è diventato più sottile, uno strato di 3313 viene aggiunto agli strati superiori e inferiori di PP del Core per mantenere lo spessore originale del materiale di base.

Ma questa volta abbiamo usato EDX per colpire Au invece di Cu. Sembra che i problemi si siano già verificati nel processo di lavorazione dell'oro. Il consiglio di amministrazione utilizzato dalla nostra azienda è ENIG.

â¼L'immagine qui sotto è un rapporto della sezione laboratorio. Si può trovare che il panno in fibra di vetro ha crepe e alcune sostanze conduttive penetrano e crescono lungo le lacune dei fasci di fibra di vetro, ma non è ancora nella fase di cortocircuito.

L'immagine è un rapporto della sezione laboratorio. Si può trovare che il panno in fibra di vetro ha crepe e alcune sostanze conduttive penetrano e crescono lungo le lacune dei fasci di fibra di vetro, ma il cortocircuito non è ancora avvenuto.

▼ Quando si sospetta che il PCB abbia CAF, è possibile prima utilizzare la misurazione elettrica e il taglio del circuito per ridurre gradualmente l'ambito del CAF, e potrebbe essere necessario rimuovere le parti elettroniche sulla scheda per rimuovere prima possibili fattori di interferenza.

Quando si sospetta che il PCB abbia CAF, è possibile ridurre gradualmente l'ambito del CAF misurando e tagliando prima il circuito e potrebbe essere necessario rimuovere le parti elettroniche sulla scheda per rimuovere prima i possibili fattori di interferenza.

▼Lentamente confermare la posizione di CAF, è possibile cooperare con Gerber per verificare se la struttura PCB ha il problema di fori passanti troppo vicini o linee troppo vicine.

Dopo aver confermato lentamente la posizione del CAF, è possibile collaborare con Gerber per verificare se la struttura PCB ha il problema di fori passanti troppo vicini o linee troppo vicine.

▼L'immagine sotto mostra l'aspetto del tagliere dopo aver confermato che il cortocircuito continua a verificarsi. Prima del trattamento con la soluzione chimica, una lunga striscia di "rame" può essere vista attraverso il foro passante e il foro cieco, ma questo è anche possibile che il rame sulla parete del foro passante venga portato sopra durante l'affettatura e la macinazione.

L'immagine è la fetta della scheda dopo aver confermato che il cortocircuito continua a verificarsi. Prima del trattamento con il farmaco, è possibile vedere una lunga striscia dello stesso elemento attraverso il foro passante e il foro cieco, ma ci sono anche. Può essere solo che il rame sulla parete del foro passante viene portato sopra durante l'affettatura e la macinazione.

ACF (filamento anodico conduttivo, filamento conduttivo del pad, fenomeno di perdita del filamento della fibra di vetro dell'anodo). L'immagine è stata trattata con uno sciroppo per pulire l'eventuale contaminazione durante la macinazione delle fette. È stato perforato con EDX e ha scoperto che l'elemento di Au (oro) è tra il foro passante e il foro cieco.

▼ L'elemento Au (oro) perforato con EDX è la prima posizione tra il foro passante e il foro cieco.

ACF (filamento anodico conduttivo, filamento conduttivo del pad, fenomeno di perdita del filamento della fibra di vetro dell'anodo). Utilizzando EDX, l'elemento Au (oro) si trova nella prima posizione tra il foro passante e il foro cieco.

▼L'elemento Au (oro) perforato con EDX si trova nella seconda posizione tra il foro passante e il foro cieco.

ACF (filamento anodico conduttivo, filamento conduttivo del pad, fenomeno di perdita del filamento della fibra di vetro dell'anodo). Utilizzando EDX, l'elemento Au (oro) si trova nella seconda posizione tra il foro passante e il foro cieco.