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Blogue PCB - Qu'est - ce qu'une puce de test?

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Blogue PCB - Qu'est - ce qu'une puce de test?

Qu'est - ce qu'une puce de test?

2023-04-04
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Author:iPCB

Les puces de test peuvent être divisées en deux catégories, l'une étant le test de plaquette, également appelé test CP, qui est un test modéré. C'est - à - dire qu'une fois la fabrication de la plaquette terminée, les capacités et les fonctions de circuit de chaque puce sur la plaquette sont testées pour s'assurer que la plaquette peut remplir les fonctions de circuit de la puce, puis envoyées à l'usine d'encapsulation pour l'encapsulation. Un autre type est le test du produit fini, également appelé test FT, également appelé test du produit fini. Le test d'achèvement est le test final après l'encapsulation de la puce. Selon le type de puce, les nœuds de test dans le processus d'encapsulation de la puce sont différents, tout comme les plans et procédures de test. Chengtai préfère donc offrir un service personnalisé à ses clients. Leur besoin est de garantir une amélioration du taux de qualité des produits finis à des fins de contrôle des coûts. Chip ba17807t Test Industry a toujours été considéré comme faisant partie du test de scellement des puces. Dans l'ensemble de l'industrie nationale des puces, les entreprises traditionnelles de test d'emballage intégré ne peuvent plus répondre aux besoins actuels. Les opérations d'inspection des entreprises d'inspection d'emballage intégrées traditionnelles sont souvent complémentaires aux opérations d'emballage. Le cœur de métier concerne principalement l'emballage et les tests et ne peut pas distraire les efforts des clients de service, ni se permettre les capacités des utilisateurs externes.


Tester la puce

Tester la puce


Avec le développement rapide de l'industrie de la conception de puces, certaines entreprises n'ont que la capacité de conception de puces et ne testent pas la capacité de la puce. Ainsi, après avoir conçu un grand nombre de types de puces, ils sont encore au stade de la conception et ne peuvent pas être testés pour l'encapsulation, sans parler de la production et de la commercialisation. Cela signifie qu'un grand nombre de demandes de puces de test ne sont pas satisfaites et qu'il y a une demande croissante de l'industrie pour le secteur des puces de test. La société de puce de test peut adapter le concept de conception de puce en temps opportun aux besoins du client pendant le processus de test et peut même personnaliser le Service de test pour répondre aux exigences strictes en matière de fonction, de performance et de qualité de la puce. Cependant, comme l'industrie des puces de test est à la fois une industrie à forte intensité de technologie et une industrie à forte intensité de capital, cela est étroitement lié à la force technique et capitalistique de l'entreprise. En outre, en raison de l'entrée tardive des entreprises de la Chine continentale sur le marché des puces de test, elles affichent actuellement une forte dynamique de croissance. Selon le rapport publié par trendforce 2021, six des dix premiers fabricants sur le marché mondial des tests d’étanchéité proviennent de Taïwan, en Chine, Représentant 54,8% de la part de marché totale; Trois d'entre eux sont originaires de Chine continentale, soit 27%. 4% de la part de marché totale; Seul ankao vient des États - Unis, avec des parts de marché respectives de 17% et 9%. Malgré cela, il n'y a pas beaucoup d'entreprises en Chine qui peuvent se lancer dans le secteur des puces de test, mais le marché a encore beaucoup de place pour se développer. Parmi eux, Jinxiang Semiconductor est une entreprise de semi - conducteurs qui peut se lancer dans des activités de puces de test indépendantes. Jinyue Semiconductor a introduit des équipements de test avancés des Pays - Bas, du Japon, des États - Unis, de Hong Kong et d'autres pays et régions, formant une équipe technique avec une expérience riche et une configuration d'équipement professionnelle dans l'industrie des semi - conducteurs. Actuellement, les puces de test ont montré une tendance progressive vers le Haut de gamme. Il est difficile pour les entreprises de détection fermées traditionnelles d'avoir suffisamment d'argent et d'énergie pour faire face aux changements de l'industrie, mais elles peuvent avoir des capitaux pour se concentrer sur ce marché. « l’industrie des semi - conducteurs a atteint son apogée. » malgré les prédictions et les rumeurs, de nombreuses entreprises continuent de se développer de manière spectaculaire, allant même au - delà des industries. Ainsi, le marché des semi - conducteurs n'est pas aussi déprimé que les rumeurs, et peut - être que certains marchés invisibles n'ont pas encore émergé.


1. Qu'est - ce que le test de vieillissement de test de puce?

Le test de vieillissement de la puce est une méthode de test de stress électrique qui utilise la tension et la température élevée pour détecter les défauts électriques dans les composants de l'accélérateur. Le processus de vieillissement simule essentiellement toute la durée de vie de la puce, car l'excitation électrique appliquée au cours du vieillissement reflète le pire scénario de fonctionnement de la puce. Selon les différents temps de vieillissement, la fiabilité des données obtenues peut concerner une durée de vie précoce ou un niveau d'usure de l'appareil. Le test de vieillissement peut être utilisé comme test de fiabilité de l'équipement ou comme fenêtre de production pour détecter les défaillances précoces de l'équipement. Test de vieillissement des puces un dispositif couramment utilisé est de déterminer si une puce est qualifiée en testant les données de la puce obtenues en travaillant avec la prise et la carte de circuit externe. Le test de vieillissement des dispositifs semi - conducteurs est l'une des techniques par lesquelles les composants semi - conducteurs (puces, modules, etc.) sont soumis à des tests de défaillance avant d'être assemblés dans un système. Planifiez les tests pour forcer les composants à subir certaines conditions de test de vieillissement sous une surveillance spécifique du circuit et analysez la capacité de charge et les autres performances des composants. Ce type de test permet de garantir la fiabilité des composants (puces, modules et autres dispositifs semi - conducteurs) utilisés dans le système. Les tests de vieillissement accélèrent la validation de la durée de vie réelle d'un appareil en simulant les différentes contraintes auxquelles il est soumis en utilisation réelle, ainsi que les faiblesses des boîtiers et des puces vieillissants. Dans le même temps, les défauts intrinsèques peuvent être mis en évidence le plus tôt possible pendant la simulation.


2. Classification des défauts de semi - conducteurs

1) défaillance précoce: se produit au cours de la phase initiale de fonctionnement de l'équipement et l'incidence des défaillances précoces diminue au fil du temps.

2) défaillances aléatoires: le temps d'occurrence est relativement long et l'incidence des défaillances est constante.

3) rupture d'usure: se produit à la fin de la durée de vie du composant.


Si les dispositifs semi - conducteurs sont sujets à des défaillances précoces, il n'y a pas besoin de s'inquiéter des défaillances aléatoires ou d'usure - leur durée de vie se termine aux premiers stades de leur fonctionnement. Ainsi, pour assurer la fiabilité du produit, la première étape consiste à réduire les défaillances précoces. Les défauts potentiels dans les semi - conducteurs peuvent être détectés par des tests de vieillissement, qui se démarquent lorsque le dispositif est soumis à une tension et chauffé et commence à fonctionner. La plupart des défaillances précoces sont causées par l'utilisation de matériaux de fabrication défectueux et les erreurs rencontrées au stade de la production. Seuls les composants ayant un faible taux de défaillance précoce par vieillissement des puces d'essai peuvent être mis sur le marché.