Präzisions-Leiterplattenherstellung, Hochfrequenz-Leiterplatten, mehrschichtige Leiterplatten und Leiterplattenbestückung.
PCBA-Technologie

PCBA-Technologie - Wie teste ich elektronische Komponenten auf einer Platine?

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PCBA-Technologie - Wie teste ich elektronische Komponenten auf einer Platine?

Wie teste ich elektronische Komponenten auf einer Platine?

2023-10-20
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Author:iPCB

Leiterplatten sind ein unverzichtbarer Bestandteil moderner elektronischer Geräte, und die Qualität und der Status ihrer Bestandteile beeinflussen direkt die Arbeitswirkung und Stabilität von Leiterplatten. Daher ist die Erkennung der Qualität und des Status von Leiterplattenkomponenten besonders wichtig.


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1. Widerstandserkennung

Widerstände sind eine gemeinsame elektronische Komponente, deren Hauptfunktion darin besteht, Widerstand für Schaltungen wie Strombegrenzung, Spannungsteilung, Filterung und Spannungsregelung bereitzustellen. Je näher der Widerstandswert des Widerstands dem Nennwert liegt, desto besser ist seine Qualität. Daher ist es im Schaltungsdesign und in der Herstellung notwendig, Widerstände zu erkennen.


1) Gleichstrombrückenverfahren

Das Gleichstrombrückenverfahren ist ein allgemein verwendetes Widerstandserkennungsverfahren, das eine Schaltung verwendet, die eine Brücke genannt wird, um den Widerstandswert des Widerstands zu messen, indem der Widerstandswert in der Brückenschaltung justiert wird, um den Potentialunterschied zwischen den beiden Enden der Brücke Null zu machen. Das DC-Brückenverfahren hat eine hohe Genauigkeit bei der Erkennung von Widerständen und eignet sich für Widerstände mit kleinen Widerstandswerten und hohen Genauigkeitsanforderungen.


2) Multimeter-Verfahren

Das Multimeter-Verfahren ist eine einfache und einfach zu bedienende Widerstandserkennungsmethode, die nur die Verwendung eines Multimeters erfordert, um den Widerstandswert des Widerstands direkt zu messen. Diese Methode ist einfach und machbar, geeignet für Widerstandserkennung in allgemeinen Schaltungen, aber ihre Genauigkeit ist nicht so gut wie die DC-Brückenmethode.


3) Laserdetektionsverfahren

Das Laserdetektionsverfahren ist ein hochpräzises und schnelles Widerstandserkennungsverfahren, das mithilfe eines Laserinterferometers die Länge und Querschnittsfläche des Widerstands misst und seinen Widerstandswert berechnet. Diese Methode hat eine hohe Genauigkeit und eignet sich für die schnelle Erkennung großer Mengen von Widerständen.


2. Feststellung der Kapazität

Ein Kondensator ist ein Gerät, das Ladungen speichert, und seine Hauptfunktion besteht darin, Filter-, Kopplungs- und Isolationsfunktionen in einem Stromkreis bereitzustellen. Im Schaltungsdesign und in der Fertigung müssen Kondensatoren getestet werden, um sicherzustellen, dass ihre Kapazität und Widerstandsspannung den Anforderungen entsprechen.


1) Brückenerkennungsmethode

Das Brückenerkennungsverfahren ist ein allgemein verwendetes Kondensator-Erkennungsverfahren, das eine Schaltung verwendet, die Kondensator-Brücke genannt wird, um die Kapazität eines Kondensators zu messen, indem der Kapazitätswert in der Brückenschaltung angepasst wird, um den Potentialunterschied zwischen den beiden Enden der Brücke Null zu machen. Dieses Verfahren eignet sich für Kondensatorenerkennung mit kleinen Kapazitätswerten und hohen Genauigkeitsanforderungen.


2) Oszilloskop-Methode

Das Oszilloskop-Verfahren ist eine intuitive und einfach zu bedienende Kondensator-Erkennungsmethode, die ein Oszilloskop verwendet, um die Wellenform während des Lade- und Entladevorgangs des Kondensators anzuzeigen und dadurch den Kapazitätswert des Kondensators zu messen. Diese Methode eignet sich für Kondensatorenerkennung mit großen Kapazitäten und niedrigen Genauigkeitsanforderungen.


3. Diodenprüfung

Dioden sind eine gemeinsame elektronische Komponente, deren Hauptfunktion darin besteht, den Strom in einer Schaltung in eine Richtung zu begrenzen, die in Schaltungen wie Gleichrichtung, Verstärkung und Schutz verwendet wird. Bei der Schaltungsentwicklung und -herstellung ist es notwendig, Dioden zu erkennen, um sicherzustellen, dass ihre Vor- und Rückwärtsverbindungen und Leitungsleistungen die Anforderungen erfüllen.


1) Multimeter-Verfahren

Das Multimeter-Verfahren ist ein einfaches und einfaches Diodenerkennungsverfahren, das nur die Verwendung eines Multimeters erfordert, um die positive und negative Spannung und den Leitungsstrom der Diode direkt zu messen. Dieses Verfahren eignet sich für die Diodenerkennung in allgemeinen Schaltkreisen, kann aber nicht die besondere Leistung von Dioden, wie Reaktionszeit und Rauschen erfassen.


2) Dynamischer Widerstand

Das dynamische Widerstandsverfahren ist ein allgemein verwendetes Diodenerkennungsverfahren, das den dynamischen Widerstandswert der Diode unter Vorwärtsspannung misst, indem eine bestimmte Vorwärtsspannung und Gleichstrom angewendet wird, um ihre Leitfähigkeit und Qualität zu bestimmen. Diese Methode eignet sich für die schnelle Erkennung großer Diodenmengen, kann aber keine Leistung wie umgekehrte Spannung und umgekehrter Leckstrom erkennen.


3) Kalt- und Heißprüfverfahren

Das heiße und kalte Prüfverfahren ist ein umfassendes Diodenerkennungsverfahren, das auf der Durchführung elektrischer Leistungstests bei konstanter Temperatur basiert, um die Leistung von Dioden, wie Vorwärts- und Rückwärtsspannung, umgekehrter Leckstrom, Leitungsstrom und Reaktionszeit zu bestimmen. Diese Methode eignet sich für umfassende Leistungsprüfungen großer Diodenchargen, erfordert aber spezielle Prüfgeräte und Umgebung.


4. Erkennung von Transistoren

Transistoren sind eine wichtige elektronische Komponente, deren Hauptfunktion darin besteht, Strom in Schaltungen zu verstärken und zu steuern.


1) Prüfmethode für statische Parameter

Die statische Parameterprüfmethode ist eine häufig verwendete Transistordetektionsmethode. Sein Prinzip besteht darin, die statischen Parameter des Transistors, wie Ausgangsspannung, Ausgangsstrom und Eingangsstrom, durch Anlegen einer bestimmten Spannung und eines bestimmten Stroms zu messen, um seine Verstärkungs- und Steuerleistung zu bestimmen. Diese Methode eignet sich für umfassende Leistungstests von Kleinserientransistoren, kann aber keine speziellen Leistungen wie Ansprechzeit und Rauschen erkennen.


2) Prüfverfahren für dynamische Kenngrößen

Das dynamische charakteristische Prüfverfahren ist ein umfassendes Transistordetektionsverfahren, dessen Prinzip darin besteht, den Frequenzgang, die Trennfrequenz, das Rauschen und andere dynamische Eigenschaften des Transistors durch Anwendung eines bestimmten AC-Signals und DC-Bias zu messen, um seine Verstärkungs- und Steuerleistung zu bestimmen. Diese Methode eignet sich für umfassende Leistungstests von großen Transistoren, erfordert aber spezielle Prüfgeräte und Umgebung.


Verschiedene Komponenten erfordern unterschiedliche Prüfmethoden und -techniken, um sicherzustellen, dass ihre Qualität und Leistung den Anforderungen entsprechen. In der praktischen Arbeit ist es notwendig, geeignete Prüfmethoden und Geräte basierend auf spezifischen Schaltungsdesign- und Fertigungsanforderungen auszuwählen, um die Qualität und Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten zu gewährleisten.