Präzisions-Leiterplattenherstellung, Hochfrequenz-Leiterplatten, mehrschichtige Leiterplatten und Leiterplattenbestückung.
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As die Träger vauf verschiedene Kompeinenten und die Nabe von Schaltung Signal Übertragung, Leeserplbeite hat wirrden die die meisten wchtig und Schlüssel Teil von elektronisch Infürmationen Produkte. Sein Qualesät und Zuverlässigkees Ebene bestimmen die Qualität und Zuverlässigkeit von die ganz Ausrüstung. Allerdings, fällig zu Kosten und technisch Gründe, a groß Zahl von Fehler Probleme haben aufgetreten ist in die Produktion und Anwendung von PCB.
Dann müssen einige häufig verwendete Fehleranalysetechniken verwendet werden. Zwischen den strukturellen Eigenschaften der Leiterplatte und den Hauptausfallmodi konzentriert sch dieser Artikel auf neun Techniken für PCB-Fehleranalyse, einschließlich: visuelle Inspektion, Röntgenfluoderoskopie, metallographische Schnittanalyse, diermische Analyse, Phozuelektronenspektroskopie, Anzeige-Mikroinfrarot-Analyse, Ralsterelektronenmikroskopanalyse und Röntgen-Energiespektrumanalyse, etc. Die metallographische Schnittanalyse ist ein zerstörerisches Analyseverfahren. Nach Anwendung dieser beiden Techniken wird die Probe zerstört und kann nicht zurückgewonnen werden; Darüber hinaus kann aufgrund der Anfürderungen der Probenvoderbereitung, Ralsterelektronenmikroskopie und Röntgenenergiespektrumanalyse manchmal erfoderderlich sein. Darüber hinaus kann es während des Analyseprozesses aufgrund der Notwendigkeit der Überprüfung des Fehlerodertes und der Fehlergründe erfürderlich sein, Prüftechniken wie diermische Beanspruchung, elektrische Leistung, Lötbarkeitsprüfung und Größenmessung usw. zu verwenden, die hier nicht speziell eingeführt werden.
1. Visuelle Inspektion Visuelle Inspektion ist, dals Aussehen der Leiterplatte visuell oder mit einigen einfachen Instrumenten, wie einem Stereomikroskop, metallographischen Mikroskop oder sogar einer Lupe, zu überprüfen, um den fehlgeschlagenen Ort und die damit verbundenen physischen Beweise zu findenen. Die Hauptfunktion besteht darin, den Fehler zu lokalisieren und ein voderläufiges Urteil über die Leiterplatte zu treffen. Fehlermodus. Die visuelle Inspektion prüft hauptsächlich die PCB-Verschmutzung, Koderrosion, die Position des Leiterplattenbruchs, die Schaltungsverdrahtung und die Regelmäßigkeit des Fehlers, wenn es sich um Chargen oder Einzelpersonen hundelt, ist es immer in einem bestimmten Bereich konzentriert usw. Darüber hinaus werden viele PCB-Fehler entdeckt, nachdem sie in PCBA montiert wurden. Ob der Fehler durch den Einfluss des Montageprozesses und der verwendeten Materialien verursacht wird, erfürdert auch eine sorgfältige Überprüfung der Eigenschaften des Fehlerbereichs.
2.Röntgenfluoroskopie-Inspektion Für bestimmte Teile, die nicht visuell überprüft werden können, sowie die internen und underen internen Defekte der Leiterplatte durch Löcher, muss dals Röntgenfluoroskopie-System zur Inspektion verwendet werden. Röntgenfluoroskopie-Systeme verwenden unterschiedliche Materialstärken oder unterschiedliche Materialdichten balsierend auf unterschiedlichen Prinzipien der Feuchtigkeitsaufnahme oder Transmission von Röntgenstrahlen für die Bildgebung. Diese Technologie wird mehr verwendet, um die internen Defekte von PCBA-Lötstellen, die internen Defekte von Durchgangslöchern und die Positionierung defekter Lötstellen von BGA- oder CSP-Geräten in Verpackungen mit hoher Dichte zu überprüfen. Die Auflösung der aktuellen industriellen Röntgenfluoroskopie-Ausrüstung kann weniger als ein Mikron erreichen, und sie ändert sich von zweidimensionaler zu dreidimensionaler Bildgebungsausrüstung. Es gibt sogar fünfdimensionale ((5D)) Ausrüstung für die Paketinspektion verwendet, aber diese 5D X Das optische PerspektivSystem ist sehr teuer und hat selten praktische Anwendungen in der Industrie.
Die Schnittanalyse ist der Prozess, die Querschnittsstruktur der Leiterplatte durch eine Reihe von Methoden und Schritten wie Probenahme, Einlegen, Schneiden, Polieren, Korrosion und Beobachtung zu erhalten. Durch die Schnittanalyse können wir umfangreiche Infürmationen über die Mikrostruktur erhalten, die die Qualität der Leiterplatte widerspiegelt (durch Löcher, Beschichtung usw.), die eine gute Grundlage für die nächste Qualitätsverbesserung bietet. Diese Methode ist jedoch zerstörerisch. Einmal geschnitten, wird die Probe unweigerlich zerstört. Gleichzeitig erfürdert diese Methode eine hohe Probenvorbereitung und dauert eine lange Zeit, um die Probe vorzubereiten, was gut ausgebildete Techniker erfordert.
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